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電子鎖老化測(cè)試設(shè)備,老化測(cè)試治具,老化架
發(fā)布時(shí)間:2024-09-06 丨 閱讀次數(shù):
電子鎖老化測(cè)試設(shè)備,老化測(cè)試治具,老化架
電子鎖老化測(cè)試設(shè)備,老化測(cè)試治具,老化架，模擬人測(cè)試開(kāi)鎖開(kāi)鎖3萬(wàn)次，次數(shù)可設(shè)置，檢測(cè)老化過(guò)程中如有鎖壞，記錄起來(lái)，老化測(cè)試又稱(chēng)壽命測(cè)試。這個(gè)鎖要求是控制NFC卡去自動(dòng)開(kāi)鎖，測(cè)試并老化。老化平臺(tái)用的是電腦控制單片機(jī)，還有USB6001組成的老化平臺(tái)。
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